Tài liệu số - Xem chi tiết


Nhan đề: Đánh giá khả năng phục hồi cách điện bề mặt của Silicon sử dụng trong cách điện cao áp chế tạo bằng vật liệu Composite phủ Silicone sau khi chịu tác động phá hủy bề mặt (phóng điện/Plasma)
Tác giả: Nguyễn Thanh Hải
Từ khóa: Cách điện Cách điện bề mặt - Silicon - Đánh giá khả năng phục hồi
Năm xuất bản: 2008
Định danh tư liệu: 621.319

Nhan đề:

Đánh giá khả năng phục hồi cách điện bề mặt của Silicon sử dụng trong cách điện cao áp chế tạo bằng vật liệu Composite phủ Silicone sau khi chịu tác động phá hủy bề mặt (phóng điện/Plasma)

Tác giả:

Nguyễn Thanh Hải

Từ khóa:

Cách điện
Cách điện bề mặt - Silicon - Đánh giá khả năng phục hồi

Năm xuất bản:

2008

Định danh tư liệu:

621.319

Danh sách tệp tin điện tử
Vui lòng đăng nhập trước khi xem chi tiết toàn văn.. Đăng nhập


Thông tin chia sẻ

	Lượt xem:	1	Lượt tải:	0
	Chia sẻ:	I I I	Bình chọn:
	Lượt bình chọn:	0	Điểm bình chọn:	0
	Chuyên đề:	- Nghiên cứu khoa học--NCKH Giảng viên

Thảo luận

Gửi ý kiến

Tài liệu truyền thống

Nhan đề
Đánh giá khả năng phục hồi cách điện bề mặt của Silicon sử dụng trong cách điện cao áp chế tạo bằng vật liệu Composite phủ Silicone sau khi chịu tác động phá hủy bề mặt (phóng điện/Plasma) : Báo cáo tổng kết đề tài cấp Bộ : 7182; I-146 / Nguyễn Thanh Hải chủ nhiệm đề tài

Tài liệu liên quan

Cùng chuyên đề

Đăng nhập

Chuyên đề tài liệu số

Thống kê

Thư viện truyền thống

Ấn phẩm đơn bản: 41.022
Xếp giá: 117.465
Ấn phẩm định kỳ: 247
Báo tạp chí: 247

Thư viện số

Tổng số tài liệu số: 12.962
Tổng số tệp tin điện tử: 15.622

Thống kê truy cập

1.126.696

: 0

Tài liệu số - Xem chi tiết

Đăng nhập

Chuyên đề tài liệu số

Thống kê

Thống kê truy cập

Liên kết website

Cơ sở Dữ liệu trực tuyến