|
Dữ liệu biên mục
|
| Dạng tài liệu: | | | Thông tin mô tả: | Nguyễn Thanh Hải
Đánh giá khả năng phục hồi cách điện bề mặt của Silicon sử dụng trong cách điện cao áp chế tạo bằng vật liệu Composite phủ Silicone sau khi chịu tác động phá hủy bề mặt (phóng điện/Plasma) : Báo cáo tổng kết đề tài cấp Bộ : 7182; I-146 / Nguyễn Thanh Hải chủ nhiệm đề tài
H. , 2008
118tr. : minh họa
|
|
|
Dữ liệu xếp giá
Chi tiết
|
|
ĐHSG: CSDL (CSDL): CSDL10000566
|
|
|
Tổng số bản:
1
|
|
Số bản rỗi:
1
(kể cả các bản được giữ chỗ)
|
|
Số bản được giữ chỗ:
0
|
|
|
|
|
|
Sách điện tử
|
|
|
|
|
|
Mục từ truy cập
|
|
|
|
|
|
Số liệu bổ sung tổng hợp ấn phẩm định kỳ
Chi tiết
|
|
|
|
|
|
|
|
|