Dữ liệu biên mục
|
Dạng tài liệu: | | Thông tin mô tả: | Oldham, Timmothy R Ionizing radiation effects in mos oxides: Asset-International Series on Advances in Solid State Electronics and Technology Founding Edior: Chih-Tang Sah / Timmothy R Oldham Singapore : World Scientific, 1999 xiv, 171tr. : Minh họa ; 23cm
|
|
Dữ liệu xếp giá
Chi tiết
|
ĐHSG: An Dương Vương (ADV): 2000003836, 2000007995
|
|
Tổng số bản:
2
|
Số bản rỗi:
2
(kể cả các bản được giữ chỗ)
|
Số bản được giữ chỗ:
0
|
|
|
|
|
|
Mục từ truy cập
|
|
|
|
Số liệu bổ sung tổng hợp ấn phẩm định kỳ
Chi tiết
|
|
|
|
|
|